TFT LCD測定システム

基板の各ブロックの測定条件を任意に設定し、レシピとして保存

機能

基板の各ブロックの測定条件を任意に設定し、レシピとして保存します。
測定は、プローバから送られてきたレシピに基づいて実行されます。
測定結果は、ロット別に集計されEXCEL形式で保存されます

測定内容

  • プローバから受信したレシピに基づいて各端子を測定
  • Id-Vg特性、Vth、Ion,Ioff算出
  • 容量測定
  • 抵抗測定

システム構成

システム構成図
開発分類
半導体関連計測
開発環境
Windows 2000
言語
VisualBasic 6.0

本事例の開発環境・言語のバージョンは開発当時のものです。新規ご依頼には、新しいバージョンにも対応しております。詳細はお問い合わせください。



採用情報

新たなる時代への挑戦

日本メカトロンは、産業技術総合試験研究所の次世代電池の共同研究を行っています。新たな時代をリードする最新技術に積極的に挑戦しています。

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