EMI測定試験システム

スペクトラムアナライザと3軸ステージを使用し、モジュール基板等から放射される電磁波を平面測定。そのレベルをカラーマップ表示

機能

本システムは、スペクトラムアナライザと3軸ステージを使用してモジュール基板等から放射される電磁波を平面測定してそのレベルをカラーマップ表示します。

  1. 試験条件
    • 測定座標(測定座標ファイル)
    • 測定モード(「ノーマルモード」/「FFTモード」)
    • スタート周波数[MHz](掃引ノスタート周波数)
    • ストップ周波数[MHz](掃引ノストップ周波数)
    • ポイント数
    • RBW[KHz]
    • Average
  2. 測定
    • 選択された測定モードで測定
    • 測定データ保存
  3. 表示
    • カラーマップ表示画面
      周波数帯域を選択した後、そのピークレベルのカラーでマップ表示します。

システム構成

システム構成図
開発分類
EMI関連計測
開発環境
Windows XP Professional
言語
VisualStudio 2005 C#

本事例の開発環境・言語のバージョンは開発当時のものです。新規ご依頼には、新しいバージョンにも対応しております。詳細はお問い合わせください。



採用情報

新たなる時代への挑戦

日本メカトロンは、産業技術総合試験研究所の次世代電池の共同研究を行っています。新たな時代をリードする最新技術に積極的に挑戦しています。

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